XRF原理:X射線(xiàn)熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)人們通常把X射線(xiàn)照射在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級(jí)X射線(xiàn)叫X射線(xiàn)熒光（X—Ray Fluorescence），而把用來(lái)照射的X射線(xiàn)叫原級(jí)X射線(xiàn)。所以X射線(xiàn)熒光仍是X射線(xiàn)。一臺(tái)典型的X射線(xiàn)熒光（XRF）儀器由激發(fā)源（X射線(xiàn)管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。X射線(xiàn)管產(chǎn)生入射X射線(xiàn)（一次X射線(xiàn)），激發(fā)被測(cè)樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線(xiàn)，并且不同的元素所放射出的二次X射線(xiàn)具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線(xiàn)的能量及數(shù)量。然后，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類(lèi)及含量。X射線(xiàn)照在物質(zhì)上而產(chǎn)生的次級(jí) X射線(xiàn)被稱(chēng)為X射線(xiàn)熒光。利用X射線(xiàn)熒光原理，理論上可以測(cè)量元素周期表中鈹以后的每一種元素。在實(shí)際應(yīng)用中，有效的元素測(cè)量范圍為9號(hào)元素 （F）到92號(hào)元素（U）。