產品分類
Product classification詳細介紹
我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發射光譜儀(ICP)、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) 、原子熒光光譜儀(AFS)、原子吸收分光光度計(AAS)、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)、氣相質譜儀(GC-MS)、液相色譜儀(LC)、液相質譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS)、高頻紅外碳硫分析儀(CS)、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產品主要應用領域有電子電器、五金塑膠、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規定的有害物質:鉛Pb、砷As、銻Sb、鋇Ba、鎘Cd、鉻Cr、Hg、硒Se以及氯等鹵族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(銅合金、鋁合金、鎂合金等)、冶金(鋼鐵、稀土、鉬精礦、其它黑色及有色金屬等)、地質采礦(各種礦石品位檢測設備)、塑料(無鹵測試等)、石油化工、高嶺土、煤炭、食品、空氣、水質、土壤、環境保護、香精香料、紡織品、醫藥、商品檢驗、質量檢驗、人體微量元素和化合物檢驗等等。銷售的儀器設備應用于元素分析,化合物測試,電鍍鍍層厚度檢測等。
水泥檢測機器設備
XRF光譜產品說明 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
水泥檢測機器設備 |
ICP全譜直讀型電感耦合等離子體發射光譜儀用于測定不同物質中的常量、微量、痕量元素含量,可用于樣品中元素的定性、半定量及好定量分析,檢出限可達十億分之一。
目前儀器廣泛應用于環境保護、食品安全醫藥化妝品檢驗、地質礦產、冶金、有色金屬、稀土、化工、臨床醫藥、石油制品、半導體、農業研究等各個領域。
性能特點
安全可靠的固態射頻電源
儀器采用的射頻電源,具有體積小、輸出效率高、輸出功率穩定,帶有水路、氣路及過載等各類安全保護功能,大大提升儀器的安全性,減小了儀器的故障率。
儀器自動化程度高
儀器的自動化程度*,除了電源開關外,所有操作均由軟件完成。智能化的軟件,可實時可對各項操作進行實時反饋及信息提示。
全自動點火及匹配技術
軟件可全自動一鍵點火,所有的參數設置變化,均自動完成。配合*的自動匹配技術,點火成功率高,操作簡便。
智能化的火焰監視功能
儀器配置了靈敏度*的光纖傳感器,可在儀器工作狀態下,實時監測火焰的工作情況,如遇異常熄火情況,可自動關閉儀器。
分離式進樣系統
霧室與炬管的分體式設計,較少了燃燒室內溫度變化帶來的霧化效率的影響,更加直觀的觀測實時的進樣狀態。配合技術的加長型霧室,有效進行氣液分離,較少水蒸氣的干擾。
定性分析軟件
可針對未知樣品,采用新型軟件算法無需標準品的情況下進行定性分析,直接分析出未知樣品中的元素種類,再針對性地進行好定量分析,大大提高了分析的效率。
高精度的氣流控制系統
儀器工作中的等離子氣、輔助氣、載氣全部采用高精度的質量流量控制器(MFC)來控制,具有流量連續可調、輸出氣流的精度高,保證了測試數據的準確性。
蠕動泵進樣裝置
蠕動泵為十二轉子四通道全自動設計,蠕動泵轉速可根據需求流量設置調節;可滿足客戶在線樣品稀釋和在線添加內標的特殊使用要求。
超出想象的測試速度
20s一次的測試速度,可以設置合適的積分時間進行測量;可以一次曝光讀出所有分析譜線的積分強度值;一分鐘內實現單個樣品近70種元素的好測量。
科研級大幅面CID檢測器
采用美國原裝賽默飛同類型CID檢測器,百萬級像素;165-900nm波長范圍全覆蓋,一次曝光,所有元素同時檢測。
便捷的波長校準功能
智能的自動波長校準算法,無需進行額外的波長校正溶液,開機后軟件自動進行波長校準,大大節省了的波長校準的時間和成本。
精密的分光系統
采用中階梯光柵配合棱鏡交叉色散分光方式,精密的光學設計可獲得最大的光通量和優異的光譜分辨率;無任何移動光學部件,保證了良好的重復性和長期穩定性;超低雜散光器件配合*的光學設計,大大降低了背景光的干擾,進一步降低了儀器檢出限。
儀器優勢
1.測試元素多,可測70余種元素。
2.多元素同時測試,一次進樣所有元素同時測試。
3.分析速度快,一分鐘測定一個樣品。
4.檢出限低,絕大多數元素可達ppb級。
5.線性范圍寬,可達5-6個數量級,可以實現高低含量同時測試,無需更換標準曲線。
6.化學干擾少,測試結果更加好。
技術參數
射頻發生器技術指標
輸出功率:700-1500W
進樣裝置技術指標
高效進口霧化器:多型號可選,高鹽、耐HF等
霧化室:雙筒型霧化室,可以選配旋流式霧化室。
蠕動泵:四通道十二滾軸,轉速可根據需求流量設置調節
總氬氣消耗量:氬氣總消耗量小于14L/min
分光器技術指標
光柵:中階梯光柵
波長范圍:165nm-900nm
分辨率:<0.007nm@200nm
雜散光:10000ppmCa 溶液在As189.042nm處的等效背景濃度<2ppm
光室:分布式精密恒溫,35±0.1℃
檢測裝置技術指標
檢測器類型:CID
儀器技術指標
觀測方式:垂直觀測
重復性: RSD<0.5%
穩定性: RSD<1% @2小時
測試速度:單個譜線CID讀出時間僅需2ms,20s內可實現所有元素的測量
元素檢出限(μg/L):大部分元素1ppb-10ppb
應用領域
為客戶提供完善的售前、售中、售后解決方案
環保行業
準確快速分析環境樣品(水質、土壤、大氣)中的元素組成,為人類的日常生活保駕護航。
地礦行業
準確快速分析礦產是元素含量,對礦山的前期開采,中期管控,后期修復等等都有嚴格的指導意義。
冶金行業
對產品成分的分析,可實時管控生產流程及工藝,確保最終產品的成分含量,以保證最終產品的質量要求。
玩具及消費品行業
對兒童玩具及生活消費品中重金屬元素的分析,確保生產的產品重金屬元素含量在管控范圍內,讓家長和孩子更加安心
貴金屬行業
貴金屬雜質元素含量直接影響到貴金屬的純度和性能,同時決定了貴金屬本身的價值,準確測定低含量雜質元素的含量,對貴金屬行業顯得極其重要。
稀土行業
稀土元素的價值和用途越來越受到青睞,高純度的稀土元素應用范圍也越來越廣,雜質元素的分析尤為重要,稀土測試要求的準確、高效等特點均可以*。
食品安全醫藥化妝品檢驗等其他行業
典型元素檢出限(μg/L):
元素 | La | Ce | Pr | Nd | Sm | Eu | Gd | Tb |
波長(nm) | 408.672 | 413.765 | 414.311 | 401.225 | 360.946 | 381.967 | 342.247 | 350.917 |
檢出限 | <3.0 | <5.0 | <5.0 | <5.0 | < 10.0 | < 1.0 | <10.0 | < 3.0 |
元素 | Dy | Ho | Er | Tm | Yb | Lu | Y | Sc |
波長(nm) | 353.170 | 345.600 | 337.271 | 313.126 | 369.419 | 261.541 | 371.030 | 335.373 |
檢出限 | <3.0 | <3.0 | <3.0 | <3.0 | <1.0 | <3.0 | <1.0 | <1.0 |
元素 | Ta | Nb | Mn | Mg | B | Zn | Co | Si |
波長(nm) | 226.230 | 313.340 | 257.610 | 279.553 | 249.773 | 13.856 | 228.616 | 251.611 |
檢出限 | <5.0 | <5.0 | <3.0 | <1.0 | <10.0 | <3.0 | <3.0 | <10.0 |
元素 | Ni | Cd | Fe | Ca | Mo | V | Be | Ti |
波長(nm) | 232.003 | 226.502 | 239.562 | 393.366 | 281.615 | 310.230 | 313.041 | 334.941 |
檢出限 | <5.0 | <3.0 | <3.0 | <1.0 | <5.0 | <5.0 | <1.0 | <3.0 |
元素 | Cu | Cr | Al | Zr | Ag | Sr | Au | Pt |
波長(nm) | 324.754 | 267.716 | 396.152 | 343.823 | 328.068 | 407.771 | 242.795 | 265.945 |
檢出限 | <3.0 | <5.0 | <5.0 | <5.0 | <3.0 | <1.0 | <5.0 | <5.0 |
元素 | Pd | Ir | Rh | Ru | Ba |
波長(nm) | 340.458 | 224.268 | 343.489 | 240.272 | 455.403 |
檢出限 | <5.0 | <10.0 | <10.0 | <5.0 | <1.0 |
元素 | As | Sb | Bi | Hg | Pb | Ga | Se |
波長(nm | 228.812 | 206.833 | 223.061 | 253.652 | 220.353 | 294.364 | 203.985 |
檢出限 | ≤15 | ≤15 | ≤10 | ≤15 | ≤15 | ≤10 | ≤10 |
元素 | Sn | Te | Ta | Th | Tl | Re | Ge |
波長(nm) | 242.949 | 214.281 | 226.230 | 283.730 | 276.787 | 227.525 | 209.426 |
檢出限 | ≤20 | ≤10 | ≤5.0 | ≤10 | ≤30 | ≤5 | ≤15 |
元素 | Os | W | Se | Li | Na | K |
波長(nm) | 225.585 | 207.911 | 203.985 | 670.784 | 588.995 | 766.490 |
檢出限 | ≤1 | ≤10 | ≤30 | ≤3 | ≤20 | ≤60 |
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